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上海仪电分析760CRT紫外可见分光光度计

上海仪电分析760CRT紫外可见分光光度计

简要描述:

  • 参 数:

    波长范围: 190nm ~ 900nm
    波长准确度: ±0.3nm (内装自动波长校正装置)
    波长重复性: ≤ 0.1nm
    分辨率: 优于 0.15nm

详细介绍

主要特点:

采用全息闪耀光栅,双光束 C - T 式光路结构,高分辨率,低杂散光,测光精度高,稳定性能好。

微机控制,自动记录,打印机可在一张记录纸上打印出含有光谱图、测试数据及操作参数的测试报告。

光源自动转换(可在294nm~ 364nm间任意设定)

功能强大的光谱处理能力。

采用长寿命进口光电倍增管,进口氘灯和长寿命钨灯。

软件特点:

信息存贮容量大,保存方便。

软件提供四个图谱通道临时贮存图谱,进行图谱叠加处理,对图谱可进行图谱和图谱、图谱和系数的四则运算、导

数运算。

图谱的峰谷检测、缩放轻松自如。

时间扫描可进行动力学研究。

定量分析提供了浓度线性回归法、方法中提供了待定系数法和系数输入法可进行曲线拟合及异常点剔除、2λ的测定。

软件提供了定波长和多波长测试,并可对测试数据进行注释,对同一样品多用户的测试提供了方便,多波长测试则可进行多达20个点波长的测试。

可轻松地将贮存图谱的参数设置为仪器当前测试条件。

技术指标:

测光方式: 双光束

单色器: Czerny - Turner

焦距: 200mm

光栅: 全息闪耀,1600线/mm

光束分光系统: 斩波器

检测器: 进口光电倍增管

光谱带宽: 0.08 ~ 5nm,间隔0.01nm连续可调

波长设定: 电脑输入

波长范围: 190nm~ 900nm

波长准确度: ±0.3nm (内装自动波长校正装置)

波长重复性: ≤ 0.1nm

分辨率: 优于 0.15nm

光度准确度: ±0.3% (T) (以NBS930D测定)

光度重复性: ≤ 0.1% (T)

杂散光: ≤0.02% (T) (在220nm处,以NaI测定) (在360nm处,以NaNO2测定) (在420nm处,以截止滤光片测定)

基线平直度: ±0.002 (A)

噪声: 100%≤0.3% (T)

0%≤0.1% (T)

扫描速度: 快、中、慢

漂移: 0.0015 A/0.5h

0.3%T/0.5h

电源电压: AC220V±22V 50Hz±1Hz

功率: 300 W

上海仪电分析仪器有限公司
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